概述：
Microwave Site Master S820E 系列的可选频率范围为 1 MHz 到 8、14、20、30 和 40 GHz，是全球迄今为止研发的最先进的 Site Master。可用的矢量网络分析仪（ VNA ）和矢量电压表（ VVM ）选件，允许用户在任何时候轻松扩展S820E的多功能性。添加选件到S820E是轻而易举的，只需购买所需的选件，并安装由安立提供的选件激活密钥。无需将仪表送进服务部门，因为所需的全部硬件和校准已经在出厂前内置到S820E中。
VNA模式提供了双端口双向扫描，4个S参数同时测量功能及用户可配置的四窗口显示功能。生成兼容行业标准格式的S2P文件(3种类型的S2P文件可选)。S2P文件可导入到Anritsu的台式VNA(VectorStar™和ShockLine™)，便于现场和实验室测量结果的对比。
VVM模式具备A/B和B/A比值功能，使S820E可作为简易替换取代旧的矢量电压表。 VVM模式还支持反射/传输直接测量，无需外部的CW源，以及外部耦合器、桥梁或分配器。矢量误差校准可应用在反射或传输测量，它为DUT提供了绝对测量数据，并补偿任何一个可能需要直接连接到DUT的电缆、适配器或固定装置。多种测量显示模式可供选择，方便与其他常见的测量类型的比较，便利的表显示可同步测量多达12个DUT和1个引用，对于多阵列天线系统调优非常适用。业界领先的动态范围为不可避免的高系统损耗提供了出色的测量稳定性和可重复性，因此非常适合临界下滑信标的安装和验证。
S820E 利用与我们的高级 Vector Star™ VNA 型号和我们最新的ShockLine™ VNA型号同样的先进采样技术，其紧凑型手持式设计发挥了台式微波的性能。没有其他手持式微波电缆与天线分析仪/ 矢量网络分析仪可与 S820E 型号的动态范围性能相媲美。凭借动态范围为 110 dB 时高达 40 GHz 的频率，S820E 的性能甚至超越了上一代台式 VNA。标准配置现代连接选项（USB、以太网）和全遥控功能。
S820E 取代了先前的 S810D/S820D 微波电缆与天线分析仪，并且提供的功能多于之前型号。 S820E 还包括“经典模式”，先前 S8X0D 系列用户只需花费很少时间即可高效使用。
内置的帮助菜单可轻松访问帮助，且包含完整的仪器用户指南。
标准单端口测量功能包括：
· 回波损耗
· VSWR
· 电缆损耗
· 史密斯圆图
· 相位
· 故障点定位回波损耗
· 故障点定位 VSWR
· 高精度射频功率（需 USB 传感器）
标准双端口测量功能包括：
· 双端口传输测量
· 双端口传输测量（需外部传感器）
· 双端口扫频电缆损耗（需外部传感器）
可选的矢量网络分析仪的功能包括：
· 双端口全向扫描，不需要翻转DUT来进行 S12和S22测量
· 同时测量2端口设备的4个S参数
· 用户可配置的画面，可以显示1、2、3或4个曲线，可任意组合曲线重叠显示
· 图表类型的多种选择,包括实部阻抗和虚部阻抗
· IFBW选择从10 Hz至100 kHz 用1/2/5步进
· 保存为S2P文件(3种格式),测量文件(.svna),屏幕图像(png)、CSV和TXT文件
· 参考面扩展(双端口)功能可以补偿端口损耗
· 用户可定义任意数据点,不限于固定的选择
· 插值(用户可选择开/关)减少重新校正的需求
· 每个曲线都有单独的平滑功能和单独的标记
可选的矢量电压表功能包括：
· 矢量误差校准反射和传输用于设备的绝对测量
· A/B 或 B/A 比值功能，可简易替换传统矢量电压表。
· 可变的 IFBW 设置：从 10 Hz — 100 kHz 以优化性能
· 灵活的测量格式包括：
– LogMag & Phase
– LinMag & Phase
– SWR
– 阻抗
· 表显示提供对12个设备+ 1个引用的同时测量
· 多种文件保存格式如测量 (.vvm)、CSV (.csv)、文本 (.txt)或图像 (.png)
传输和双端口扫频电缆损耗测量使用外部 USB 传感器，可使用户准确测量较长电缆和波导装置的损耗，适合于末端相距较远的装置。通过使用安立的USB延长器（2000-1717-R）和适当长度的UTP Cat 6电缆，传感器可延伸至 85m (278 ft)。安立公司提供22.5 m 的Cat 5e电缆(2100-28-R) 来满足大多数应用的要求。
利用获得专利认证的射频干扰抑制法能够在射频高度活跃的应用中执行精准的测量。支持同轴和波导测量类型。
该架构采用全新设计，能够提供最先进的性能，架构内部有 4 个接收器，可执行完全反向测量的双端口矢量网络分析仪。此架构可进行升级，以进一步扩展仪器的强大功能，从而确保您未来收益。
线扫描工具 (LST) 是一种免费的数据分析软件实用程序，除了能够生成专业报告外，还能对系统的变化趋势、存在的问题及其性能进行评估。
